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余弦校准辐射探头

余弦校正辐射探头是一种用于光谱辐射测量的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射光信号,从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。

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       余弦校正辐射探头是一种用于光谱辐射测量的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射光信号,从而消除了其它取样装置中光线收集装置几何结构中的光学接口问题。

       LS-CC余弦校正辐射探头采用反射率>98%的漫反射射材料,实现200-2500nm辐射光谱测量。我们提供两种余弦校正辐射探头一种是通过SMA接头光纤连接光谱仪,另外一种是直接耦合到光谱仪的SMA接口上。莱森光学的余弦校准辐射探头与光谱仪配合使用时,可以用来测量UV-A和UV-B太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。



余弦校准辐射探头2.jpg



余弦校正器                                                                                  CC-UV/VIS 角度响应曲线

大标题-04.jpg

LS-CC-UV/NIR/ LS-CC-UV/nir

漫散材料

反射率>98%

直径

3.9mm-10mm

接收角度

接收来自180°立体角的光

接头

SMA 905




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