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高光谱成像仪可以监测玉米基因型和生长状况吗?

为了应对形态引起的反射率分布的变化,本文介绍了一种将最长叶片从中心到叶尖分成10部分的方法,请看详情:

人们对利用高光谱成像记录植物物种、基因型或生长条件之间差异的潜力抱有极大热情。但是高光谱成像的应用通常是在高度受控的情况下:例如集中在叶片的平坦部分或植物侧视图,这在野外环境中很难获得。

评估单个叶段

本文重点介绍了在一个典型的玉米田里收集自顶向下的玉米幼苗高光谱图像。该图像包括了植物中心漏斗状的轮盘,几个叶片向外辐射。结果发现不同部分的反射率曲线存在很大差异。为了应对这种形态引起的反射率分布的变化,本文实施了一种将最长的叶片从中心到叶尖分成10部分的方法。结果发现利用这些片段可以提高玉米幼苗区分不同基因型或非生物胁迫条件(热、冷或盐胁迫)的能力。另外本文还发现,在不同的玉米自交系基因型之间,成功对非生物胁迫条件进行分类的能力存在显著差异。这提供了一种可用于田间环境帮助对玉米幼苗的基因型和环境变异进行分类的方法。

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