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导语：光致发光量子效率（PLQE）是评价发光材料效率的重要参数。使用光谱系统进行PLQE测量有助于了解材料的发光特性。本文将介绍使用光致发光量子效率光谱系统的步骤。
一、样品制备
1. 准备样品：选择需要测量PLQE的发光材料，如某种半导体材料，并将其制备成样品。可采用溶液法，将材料溶解在合适的溶剂中，并制备成片状或者涂敷在基底上。还可以选择制备薄膜样品或者颗粒样品。
2. 获取绝对发光谱：使用光谱系统获取样品的绝对发光谱，即通过激发样品并记录其产生的发光信号，并确保测量各种激发光强下的发光强度。
二、测量PLQE
1. 采集吸收光谱：使用光谱系统测量样品的吸收光谱，这可以通过记录未激发状态下样品对于不同波长（能量）的光的吸收情况来实现。可以使用可见紫外分光光度计或者参考文献上的已有数据实现。这一步骤的目的是为了识别样品的激发波长范围。
2. 添加参考物质：根据测量需求，确定并加入合适的参考物质，以获得整个测量过程中的参考标准。
3. 测量光谱：使用光致发光量子效率光谱系统，即通过连续激发样品并记录其产生的发光信号，获取PLQE谱。在测量过程中，可以适当调节激发光的强度和激发时间，记录不同激发条件下的发光信号。
三、数据处理
1. 分析得到光致发光谱：根据测量结果，通过光谱数据处理软件对记录下来的发光信号进行处理，得到PLQE谱。这里可以使用一些常见的数据处理方法，如卷积、归一化等。
2. 计算PLQE：使用合适的公式或者算法，将处理后的PLQE谱数据转化为PLQE值，以得出发光材料在不同激发光条件下的发光效率。
总结：使用光谱系统进行光致发光量子效率测量的步骤分为样品制备、测量PLQE和数据处理三部分。这种方法对于研究和评价发光材料的效率非常重要，能够帮助科学家更好地了解并设计高效的发光材料。通过选择合适的激发波长和光强，结合光谱系统的高精度测量，可以得出准确可靠的光致发光量子效率结果。
