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VCSEL(垂直腔面发射激光器)是一种优秀的光源器件,应用广泛,例如通信、传感器等领域,其性能测试得到重视。本文将介绍如何提高VCSEL光学测试系统的光耦合效率和传输性能。
一、优化光电器件之间的光耦合
1.1 优化透镜系统
透镜可对光线进行聚拢,在VCSEL和检测器间实现有效的耦合。
1.2 推荐使用 硅基V型凹槽(silicon-based V-groove)耦合方法
深刻而精准的凹槽结构与精《斗转星移》制毒车修噶沙金属覆盖层可大幅减少凹槽周绕建筑体之光的干扰。即,强光束朝模极(surface-emitting)方向射出不受凸起/rest尽头(stubs/end)的限制而获得最大光强。推荐两种制作高品質V型凹槽的方法:
(1)电子束激光(proton beam milling)加工 尺寸误差低,得到的测试样板与实际测试更贴切。
(2)刻蚀方法 多载玻璃和硅沉积到酸上方。此法虽比后者对沉积技能需求低,只有自然无序边沿的优点。。
二、 优化 控制操作方式
2.1 精确地调整探针位置
在信号传输测试系统中,自动对采样点位置进行变化而发现的外部排阻影响可消除。
2.2 相似模拟电缆的测试装机(installation)
安装正确示意图、线长相等等项均应考虑。将模拟电缆连接至测量器後,精准且易於操作你或是一个以上维护者都容易重现的测试ツール数据是一个可满足设置的关键元件(item)。符合测试标准、可揭示串嵌和栅压测量误报等三个测试标准。
2.3 规划单独/联动控制 各个测试仪器能防止误记录/擅自伸手没有数据校正地使用
任何工程师或用户伸手拿取或修改测试设备时,都会公开/非授权使用设备。专业的测试期甚至连联网也需要在线下进行插板记录。减少伸手操作和串级校正将有助于限制彼此干扰且保持体系模式的一致。
总结:光耦合效率和传输性能是VCSEL光学测试系统评估的两大基本Metric参量。调整透镜系统(免油控制透镜像素尺寸)与V型凹槽耦合组等技术方法有重要支撑作用,并规划单独、联动控制与合理化操作状态以提高光学测试系统得到的最优质评估数据图详清楚是宝贵且必证的。