服务热线:
86-0755-23229824
您当前所在位置:首页>>产品中心>>科学级光谱分析系统
产品中心
产品中心
联系我们

电话:86-0755-23229824

手机:18948346937 / 13510373651

邮箱:sales@lisenoptics.com

地址:深圳市宝安区沙井街道后亭茅洲山工业园工业大厦全至科技创新园科创大厦11层C

微信:

微信客服号:

抖音官方号:

立即沟通
Bing rect image
干涉散射成像系统

原位电化学干涉散射成像-共聚焦拉曼关联系统,高分辨、原位表征、独特的离子迁移观测解决方案

全国服务热线
全国服务热线
86-0755-23229824
立即沟通 立即沟通
  • 产品详情

莱森光学与谱光慧联携手合作,共同推动光学与光谱检测技术的创新与应用,推出了科学级共聚焦拉曼、荧光、角分辨、偏振光谱,以及瞬态荧光与瞬态吸收等多种稳态瞬态光谱测试系统。莱森光学与谱光慧联双方都具有在光学成像与光谱检测技术领域20年的开发经验和积累,双方的强强联合,一起拓展光谱技术在高端科学级光谱仪器行业的应用,提供更为全面、专业的光谱解决方案,以满足高校、科研单位对科学级高端光谱仪器日益增长的需求。   


干涉散射成像,是基于显微成像技术拓展而来的,具有高分辨和高对比度的成像技术。其利用激光宽场照明,获得样品对激光的散射信号,再通过干涉方式对样品表面进行成像。由于干涉信号对样品表面的折射率变化异常敏感,因此能够以极高的空间分辨率对电化学充放电过程中所引起的颗粒表面的细微变化进行成像,并以高对比度反映充放电时离子化合物的形成、变化和迁移过程并分析其电化学机理。

该系统还结合了共聚焦显微拉曼成像技术,能够在样品同一位置原位实现干涉散射成像与共聚焦拉曼光谱的表征,从而综合表征充放电过程中材料的结构、成分等性质的变化,以及离子迁移的过程。


新-03.jpg

 独特的干涉散射成像模式,反映离子化合物的形成、迁移和分布

 可原位获得样品同一区域的干涉散射成像和拉曼光谱/mapping结果

 极高的空间分辨率(300nm@720nm波长)

 自动聚焦等自动化操作和数据采集功能,确保光路的稳定性,以及易用性

新-05.jpg

 电化学、电池材料

 二维材料等微纳米材料

新-02.jpg


Copyright © 2020 All Rights Reserved 莱森光学(深圳) 有限公司·版权所有 备案号:粤ICP备18141551号